高低溫試驗(yàn)箱的試驗(yàn)應(yīng)符合試驗(yàn)樣品外觀(guān)檢驗(yàn)和電學(xué)、機(jī)械性能測(cè)試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。本系列的高低溫試驗(yàn)箱適用于航空、航天、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元件的濕熱測(cè)試，并對(duì)其各項(xiàng)性能指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。
　　高低溫試驗(yàn)箱是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中常用的溫度試驗(yàn)設(shè)備，與其相關(guān)的產(chǎn)品有高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱等。試驗(yàn)開(kāi)始時(shí)，試樣的溫度應(yīng)為室溫，低溫和高溫下的時(shí)間應(yīng)根據(jù)試樣的熱容量來(lái)決定，熱容應(yīng)是3,2,1H,30min,10min，試驗(yàn)時(shí)間應(yīng)根據(jù)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)時(shí)間未規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。（注：10分鐘的測(cè)試時(shí)間適合小樣本測(cè)試）。另外，為滿(mǎn)足高低溫試驗(yàn)箱的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置要求，應(yīng)考慮試樣的熱時(shí)常數(shù)及現(xiàn)有試驗(yàn)箱的技術(shù)性能。在標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定下，低溫箱的溫度測(cè)試要維持規(guī)定的時(shí)間，把試樣從低溫箱取出，轉(zhuǎn)移到高溫箱。      
　　換算時(shí)間包括從一個(gè)箱子里取出放到另一個(gè)箱子里的時(shí)間，以及在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度下暫停的時(shí)間。如果沒(méi)有立即開(kāi)始從低溫到高溫或從高至低溫的下一次轉(zhuǎn)換(如過(guò)夜或周末休息等原因)，試驗(yàn)分析樣品可能會(huì)被保存在低溫箱或高溫箱中，然后當(dāng)一個(gè)發(fā)展循環(huán)結(jié)束時(shí)，測(cè)試樣品應(yīng)按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)管理企業(yè)進(jìn)行經(jīng)濟(jì)恢復(fù)程序。
　　高低溫試驗(yàn)箱修復(fù)程序：
　　1、測(cè)試條件結(jié)束時(shí)，測(cè)試所用的恢復(fù)時(shí)間足以達(dá)到穩(wěn)定的溫度標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下測(cè)試樣品。
　　2、對(duì)于已知種類(lèi)的試驗(yàn)樣品，相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)可規(guī)定具體恢復(fù)工作時(shí)間。